摘要：随着集成电路工艺进入纳米工艺时代,VLSI规模在增大的同时,还伴随着显著的工艺参数变化,使得电源线/地线网络（P/G网）分析从确定式分析算法转变为统计式分析算法,迫切需要能够降低算法复杂度的局部分析算法.为了计算设计者感兴趣的P/G网少数IR电压降比较大的问题节点电压变化,必须分别计算出这些点的相关电阻向量,本文提出了一种单点SOR（Successive Over Relaxation：连续过松弛-超级松弛）的统计分析方法（SN-SOR）.与传统的全局SOR方法相比,SN-SOR方法有如下三个优点：（1）局部松弛.由于计算一个问题节点q的相关电阻向量,必须仅在q点加一个激励,所以SN-SOR方法不是采用全局电路节点的顺序松弛方法,而是采用从q点不断向周围节点进行松弛的波状松弛方法,当某些节点的IR电压降小于一个极小的设定值时（即相关电阻足够小）,这些节点就不再向外进行松弛计算,因此SN-SOR方法具有局部松弛的特性.（2）高效.与传统的全局SOR方法相比,SN-SOR方法不仅松弛点非常少,而且松弛次数也有所减少.（3）低空间复杂度.当计算出q点相关电阻向量后,SN-SOR方法不是将所有相关电阻都存起来,而是只将强相关电阻存起来,对于大多数的弱相关电阻,仅将少数代表节点上的弱相关电阻存起来,所以本文方法的空间复杂度比较低.大量的实验数据表明,与全局SOR求解方法相比,SN-SOR方法在保持较高精度（误差小于0.38%）的前提下,速度可以提高20倍.

关键词：vlsi 统计分析 sor 单点分析 

单位：北京师范大学信息科学与技术学院; 北京100875; 北京科技大学信息科学与技术学院; 北京100083