摘要：本文提出了一种新的基于初始状态的并行折叠计数结构，并给出了建议的多扫描链的BIST方案．与国际上同类方法相比，该方案需要更少的测试数据存储容量、更短的测试应用时间，其平均测试应用时间是同类方案的0．265％，并且能很好地适用于传统的EDA设计流程．

关键词：内建自测试 线性反馈移位寄存器 并行折叠计数器 多扫描链 测试数据压缩 

单位：合肥工业大学电子科学与应用物理学院; 安徽合肥23009; 合肥工业大学计算机与信息学院; 安徽合肥23009