摘要：为了对GIS不同绝缘缺陷局放超高频（Ultra High Frequency，UHF）信号与视在放电量（pc）之间的对应关系，即UHF信号标定技术进行研究，在GIs内模拟了四种典型缺陷模型，选取300～400MHz、700～800MHE、1．4～1．5GHz以及0．3～3GHz等四种检测频段，对不同缺陷UHF信号标定进行研究，并采用多种数学回归模型和拟合优度校验指标对标定结果分别进行回归分析和拟合优度校验分析。研究发现，同一类型缺陷在不同检测频段上UHF信号幅值（mV）与视在放电量（pC）之间存在较为明显的对应关系，不同频段间对应关系存在差异，可以近似采用一元线性多项式回归模型对不同类型缺陷UHF信号幅值进行放电量标定。

关键词：gis 局部放电 超高频标定 数学回归模型 拟合优度校验 

单位：山东电力集团公司电力科学研究院 山东济南250002 上海交通大学电气工程系 上海200240