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电离层残差对掩星反演温度精度的影响

柳聪亮 Gottfried Kirchengast Kefei Zhang 谭志祥 Johannes Fritzer 孙越强 地球物理学报 2014年第08期

摘要:本文以MSIS90大气模式和3D NeUoG电离层模式为大气背景,用三维射线追踪法模拟研究了太阳活动强度、地方时、掩星平面方位角对弯曲角电离层残差和温度电离层残差的影响,以及电离层残差对全球日平均温度的影响.结果表明:电离层残差是平流层顶部(35-50 km)和中间层底部(50-70 km)掩星大气温度反演的主要误差.在太阳活动活跃期,电离层残差对单一掩星事件的平流层顶部平均温度的影响可达1.8 K,中间层底部平均温度的影响可达7 K;对全球日平均温度的影响在平流层顶可达-0.6 K,在70 km高度处可达1.2 K.发展新的电离层改正方法或电离层残差修正算法对提高掩星大气反演精度和全球气候监测意义重大.

关键词:掩星温度电离层残差射线追踪

单位:中国科学院空间科学与应用研究中心 北京100190 中国矿业大学国土环境与灾害监测国家测绘局重点实验室 徐州221116 SchoolofMathematicalandGeospatialSciences RMITUniversity Melbourne3001 Australia WegenerCenterforClimateandGlobalChangeandInstituteforGeophysics Astrophysics.andⅣ【eteor010gy/InstituteofPhysics UniversityofGraz GrazA一8010 Austria

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