首页 > 期刊 > 电子测试 > 多通道架构带来测量新挑战——MIMO测试首重同步性 【正文】
摘要:MIMO—OFDM技术是利用多支天线同时发送并接收数据,增加通讯带宽的应用效益,但是也为产品的测量带来新挑战。在研发设计端,针对MIMO的测量仪器必须考虑不同VSA及VSG之间的信号同步性,系统EVM的要求更严格。在生产线端,若能以接近于802.11a/b/g的测试成本,来完成复杂的MIMO测试,将有助于降低成本。
关键词:mimo 测量仪器 测试成本 同步性 多通道
单位:筑波科技工程部副总经理
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