首页 > 期刊 > 电子测试 > 多芯片整合封测技术(1)--完封?芯片封装新技术、新趋势、新挑战 【正文】
摘要:多芯片的出现同时也给封测技术的发展提出了新的挑战,针对这一点,本文详论了芯片封装的发展过程,以及在各种在封装的优缺点及其所需解决的问题。
关键词:多芯片 制程 散热 封装 裸晶
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