首页 > 期刊 > 电子测试 > 吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEIV7.1升级版扩展了C—V、I—V和脉冲式I—V特征分析功能 【正文】
摘要:新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利(Kejthley)仪器公司(NYSE代码:KEI),日前最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI(吉时利交互式测试环境)V7.1版。经过此次软件升级之后,KTEI支持更高功率半导体器件的测试。
关键词:功率半导体器件 吉时利 特征 系统 升级版
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