摘要：为了促进国内集成电路测试的技术交流，更好地支持集成电路产业发展，北京自动测试技术研究所、北京集成电路设计园联合爱德万测试（苏州）有限公司和《电子测试》杂志社于2008年12月18日在北京举办了“2008集成电路测试技术研讨会”。研讨会旨在针对北京IC设计企业提供低成本验证与测试最佳解决方案，以及介绍新型IC（如SOC、RFIC、高速混合IC等）验证与测试技术，以促进集成电路测试技术的交流与合作提升我国集成电路测试技术的水平。

关键词：集成电路测试 技术研讨会 北京 自动测试技术 集成电路产业 

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