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CPLD测试方法研究

于明 电子测试 2010年第01期

摘要:CPLD是集成电路中最常用的器件之一,CPLD的工艺不断改进,使得它的集成度和工作速度也在不断增加。因此,对于CPLD的测试变得越来越重要。本文在详细研究CPLD内部结构的基础上,基于"分治法"的基本思路对CPLD的测试理论和方法做了探索性研究,并且建立了测试模型以针对实际的CPLD器件测试。

关键词:cpld测试模式分治法

单位:集成电路测试技术研究中心BJAST北京自动测试技术研究所

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