首页 > 期刊 > 电子测试 > 带隙基准源电路工艺鲁棒性设计 【正文】
摘要:在电路设计中,器件和电路的性能和参数会随着制造工艺,电源电压,环境温度的改变而发生变化,随着集成度不断提高,这种偏差严重影响电路的成品率,增加了电路设计的复杂性和成本等。采用基于典型的PTAT带隙基准源,对它进行适当修改后,增加了曲率校正和频率补偿功能,达到增强其工艺鲁棒性的目的,所设计的电路在满足原功能基础上,在指定的PVT变化范围内,电路稳定性得到明显提高。
关键词:带隙基准源 工艺 鲁棒性
单位:北京自动测试技术研究所
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