摘要：介绍了两种传统等效采样的意义、原理和方法,指出其局限性,在精准测量上存在难度并分析了其原因,提出了实时测试波形采显技术的研究,通过找准跳变点及时间延两方面,结合芯片电学性能和结构特点,快速开发出芯片的测试程序。

关键词：等效采样 实时采样 波形采显 

单位：集成电路测试技术北京市重点实验室; 北京自动测试技术研究所; 北京100088