首页 > 期刊 > 电子测试 > 低应力非晶硅薄膜的制备 【正文】
摘要:本文研究了三种降低非晶硅材料应力的手段:优化工艺参数。通过N2退火,将非晶硅的压应力变为张应力。通过额外的掺杂硼来改变非晶硅的应力。最初加入硼掺杂后应力会发生突变,但随着同步掺杂的浓度增加,最终的应力变化会趋向缓和。通过综合利用以上三个手段,最终的实际结果达到了预定的低应力目标。
关键词:低应力 非晶硅 微机械 半导体制造
单位:上海华虹宏力半导体制造有限公司
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