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光电探测电路噪声分析与Pspice仿真

张子儒; 丁雷; 张冬冬 电子测试 2018年第09期

摘要:光电探测电路的设计会直接影响到光电探测系统的性能。对光电探测电路中光电二极管模型和前置跨阻放大电路进行了分析,针对光电探测电路中噪声来源,进行了详细分析并给出了其计算公式,基于实验元器件参数,计算了电路输出总噪声和信噪比。在Pspice上对前置跨阻放大电路进行了建模和仿真,分析了光电探测电路的时域特性、频域特性和噪声特性,通过参数扫描模块,分析了反馈电容对电路特性的影响,通过噪声分析模块,分析了电路噪声特性,并得到了系统等效噪声功率。

关键词:光电探测pin光电二极管前置跨阻放大pspice仿真

单位:中国科学院大学; 北京100049; 中国科学院上海技术物理研究所; 上海200083; 中国科学院红外探测与成像技术重点实验室; 上海200083

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