摘要：本文介绍了一个精巧的测试电路,采用1个测试端口,可以实现三种测试功能,既可以作为输入端口向芯片输入信号,也可以作为输出端口观察芯片的输出,还可以作为控制端控制芯片的内部状态,有效降低了芯片的可测性设计成本。

关键词：可测性 测试效率 芯片成本 

单位：华润半导体(深圳)有限公司; 广东深圳518035; 广东晶电子股份有限公司; 广东深圳518000