首页 > 期刊 > 电子测试 > 一个疑似银离子迁移所致故障案例的分析 【正文】
摘要：本文针对本公司的某型产品进行详细的故障分析,不断寻找产品故障的深层次原因,并排出其他原因。最终确定故障原因为银离子迁移,并依此提出一个合理的产品故障解决方案。
关键词：电池 漏电 继电器 银离子迁移
单位：中国船舶重工集团公司第七二六研究所; 上海201100
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