摘要：理论上已经证实可实现超宽测绘带的距离向多孔径成像方法在增加测绘带宽的同时又可获得较高的分辨率.为了正确地评定距离向多孔径成像方法的实用性,该文给出了体制中各项误差的定量分析,并对一些误差给出了相应的算法上的修正.

关键词：超宽测绘带 距离向多孔径 成像算法 误差分析 

单位：中国科学院电子学研究所微波成像技术国家重点实验室; 北京; 100080; 中科院研究生院; 北京; 100039; 中国科学院电子学研究所微波成像技术国家重点实验室; 北京; 100080