摘要：为了降低集成电路的软错误率,该文基于时间冗余的方法提出一种低功耗容忍软错误锁存器。该锁存器不但可以过滤上游组合逻辑传播过来的SET脉冲,而且对SEU完全免疫。其输出节点不会因为高能粒子轰击而进入高阻态,所以该锁存器能够适用于门控时钟电路。SPICE仿真结果表明,与同类的加固锁存器相比,该文结构仅仅增加13.4%的平均延时,使得可以过滤的SET脉冲宽度平均增加了44.3%,并且功耗平均降低了48.5%,功耗延时积（PDP）平均降低了46.0%,晶体管数目平均减少了9.1%。

关键词：软错误 单粒子翻转 单粒子瞬态 加固锁存器 

单位：合肥工业大学电子科学与应用物理学院; 合肥230009; 合肥工业大学计算机与信息学院; 合肥230009