摘要：为研究变频电机用耐电晕型聚酰亚胺材料耐局部放电老化机理，采用电导电流法分别测量了普通聚酰亚胺薄膜（100HN）和耐电晕型聚酰亚胺薄膜（100CR）电晕老化前、经10kV／mm、20kV／mm电晕强度8h老化后的电老化阈值。结果表明。2种薄膜的电老化阈值随电老化强度的增加而减小。且耐电晕型薄膜的电老化阈值始终高于普通膜的阈值；在2种薄膜的空间电荷限制电流区内。耐电晕型薄膜的电流增长率较大，说明其中含有更多的浅陷阱，测试结果与其170℃下退极化电流测试结果一致。这些浅陷阱有效调节了聚酰亚胺薄膜中电场的分布，改整苴耐由暑性能

关键词：聚酰亚胺薄膜 电导电流 电老化阈值 空间电荷 陷阱 

单位：华北电力大学电气工程学院; 保定071003; 哈尔滨理工大学电气与电子工程学院; 哈尔滨150040