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并联电容对带有高耦合分裂电抗器的并联高压SF6断路器开断性能的影响

苏海博; 郭泽; 莫文雄; 李兴文; 王勇; 叶建斌 高电压技术 2017年第03期

摘要:带有高耦合分裂电抗器(HCSR)的并联高压SF6断路器在大容量开断有潜在的应用前景。短路电流开断试验表明该开断装置均流性能良好,但在开断时间上会存在不同期的问题,出现限流开断现象;为了进一步提高装置开断的可靠性,避免限流开断的发生,通过MATLAB的Simulink模块搭建了电路和电弧模型,研究了断口两端并联电容器对于其开断性能的影响,结果表明断口并联电容能够有效地降低断口恢复电压上升率,从而实现均流开断;最后开展了相关的试验研究,通过在断口两端并联1个0.277μF的电容后,实现了可靠的均流开断。研究结果对于该开断装置的研制具有一定的指导意义。

关键词:高耦合分裂电抗器并联断路器电容恢复电压

单位:广州供电局有限公司电力试验研究院; 广州510410; 西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室; 西安710049

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