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高压SF6断路器动态回路电阻测量中的扰动现象

程亭婷; 高文胜; 赵宇明; 张欣; 姚森敬 高电压技术 2018年第11期

摘要:动态回路电阻测量是一种高压SF6断路器触头诊断技术。由于动态回路电阻测量过程中存在较严重的扰动现象,导致其特征量计算困难,并且严重影响触头烧蚀状态的评估。通过研究不同烧蚀程度下的高压SF6断路器的动态回路电阻曲线,发现动态回路电阻测量曲线上的扰动现象主要包括3种:波动、窄脉冲(几μs)和宽脉冲(几十到几百μs)。试验电路仿真分析结果表明:在动态回路电阻测量中,动静触头的相对运动造成动态回路电阻波动,波动可以反映触头的表面形态;主触头和弧触头之间的电流转移导致动态回路电阻波形上出现窄脉冲,因此窄脉冲是主触头分离的标志;触头弹跳和弧触头之间的燃弧导致动态回路电阻波形上出现宽脉冲,因此宽脉冲可作为弧触头分离的标志。窄脉冲和宽脉冲可作为关键特征量,用于更加准确地计算触头分离时刻和评估触头烧蚀状态。

关键词:sf6断路器触头动态电阻测量扰动现象烧蚀

单位:清华大学电机工程与应用电子技术系; 北京100084; 深圳供电局有限公司; 深圳518000

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