首页 > 期刊 > 工业工程 > 与控制点方法论相结合的V—mask累积和控制图 【正文】
摘要:V-mask累积和控制图虽然能够有效地监控过程中发生的微小偏移,但是因为它需要存储大量统计量且计算时间较长,所以在计算机中实施起来比较困难。为了解决这一问题,介绍了将控制点方法论应用于V-mask累积和控制图这一方法,并通过实例来进一步说明。结果表明,与控制点方法论结合的控制图减少了存储量,缩短了计算时间,而且将在顾客满意度控制中得到广泛应用。
关键词:顾客满意度 控制点方法论
单位:天津大学管理学院; 天津300072
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