摘要：基于大尺寸DIP陶封器件在高加速离心试验中的高失效率问题及其典型的失效模式,用有限元分析软件workbench对这类器件进行了失效分析,确定了引发失效的原因为使器件中部悬空的装夹方式存在问题,进而针对这一问题提出了相应的改进。

关键词：dip陶封器件 高加速离心试验 失效分析 

单位：中国电子科技集团公司第二十四研究所; 重庆400060