首页 > 期刊 > 环境技术 > 片式电阻防硫化可靠性技术研究 【正文】
摘要:针对某模块产品中片式电阻出现硫化失效问题,通过对片式电阻硫化的机理研究,结合高可靠非封闭结构产品及使用环境要求,开展了多种质量等级电阻、工艺方案、工艺材料的耐硫化环境试验。通过多组试验的对比,提出了非封闭结构产品中片式电阻防硫化的可靠性技术解决方案。
关键词:片式电阻 硫化 非封闭结构
单位:中国电子科技集团公司第二十四研究所; 重庆400060
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社
相关期刊
统计源期刊
¥460.00