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TD-LTE受限基带芯片终端一致性测试即将展开

鲁义轩通信世界 2010年第42期

摘要：TD-LTE终端产品成熟的一个重要标志是终端一致性测试能力的完善,该环节即将在2011年的TD-LTE规模试验中逐步展开。

关键词：一致性测试终端产品基带芯片测试能力

单位：《通信世界》编辑部

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