摘要：利用微弱信号的微波吸收相敏检测技术,获得了纳米硫化镍增感的立方体溴化银乳剂中,在增感时间增加的条件下,自由光电子和浅束缚光电子的时间衰减曲线.分析了采用纳米硫化镍进行增感的溴化银乳剂中光生电子随增感时间衰减的过程,讨论了卤化银晶体中电子陷阱对光电子运动行为的影响,分析了电子陷阱效应及陷阱深度同增感时间之间的关系.通过未增感样品与增感样品的衰减曲线对比,得到了在此实验条件下的最佳增感时间为80min.

关键词：纳米硫化镍 衰减时间 电子陷阱 寿命 

单位：河北大学物理科学与技术学院; 保定; 071002; 中国科学院理化技术研究所; 北京; 100101