摘要：利用转移矩阵方法研究了含双负缺陷的一维光子晶体耦合腔的透射谱．计算结果表明，如果改变缺陷的折射率，缺陷模之间的耦合作用将发生改变，使得能隙中的杂质带也随之改变．若这个折射率取适当值，则可以在禁带中同时出现几个尖锐的透射峰和较宽的通带，这种结构可同时用于多通道窄带滤波和宽带滤波．

关键词：光子晶体 缺陷模 杂质带 滤波 

单位：雁北师范学院固体物理研究所; 山西大同037009; 同济大学波耳固体物理研究所; 上海200092