摘要:采用Potts模型Monte Carlo方法研究了晶粒棱长、尺寸与拓扑学特征之间的统计关系.结果表明,晶粒棱长与晶粒面数之间呈线性统计关系,并且平均Ⅳ面体晶粒模型和Poisson.Voronoi组织均支持该结论.不同时刻的晶粒长大仿真数据表明,在准稳态晶粒长大阶段晶粒棱长的分布具有自相似性.个体晶粒的平均棱长随晶粒面数(或晶粒尺寸)的增加而逐渐增大,这说明一些理论模型中采用的“不同面数的晶粒平均棱长均相等”的假设具有局限性.仿真数据和纯铁实验数据均表明,晶粒尺寸与晶粒面数之间的统计关系表现为一条单调递增的凸曲线.
关键词:晶粒棱长 晶粒尺寸 拓扑学 monte carlo仿真
单位:北京科技大学材料科学与工程学院 北京100083 北京科技大学新金属材料国家重点实验室 北京100083 佳木斯大学材料科学与工程学院 佳木斯154007
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社