摘要：对新型条形辐射探测芯片的吸收膜层进行了理论分析,并且在金刚石材质的探测芯片上采用电镀方法制备了镍磷黑吸收膜.辐射探测芯片的膜层吸收分析表明,芯片吸收膜层的吸收率正比于表面粗糙度.通过对辐射吸收膜层设计与制作工艺的研究,制备出一种用于条形辐射探测芯片的镍磷黑吸收膜,通过测量其表面形貌结构,表明该膜层具有50nm—1.5μm范围的微结构;红外吸收测试表明其吸收率在1.4—8μm波段为0.989以上,从而提高了辐射探测芯片的性能.

关键词：绝对辐射计 吸收膜 镍磷黑膜 金刚石 

单位：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室 长春130033 中国科学院研究生院 北京100049 中国科学院东北地理与农业生态研究所 长春130012