摘要：采用基于第一性原理的线性缀加平面波方法（FP-LAPW）,研究Al掺杂SnO2材料Sn1-xAlxO2（x=0,0.0625,0.125,0.1875,0.25）的电子结构和光学性质,包括能带结构、电子态密度、介电函数和其他一些光学性质.计算结果表明,掺杂Al之后价带上部分折叠态增加,价带宽度发生收缩,对导带底起作用的Sn5s态减少,使得带隙增宽,且态密度整体向高能方向发生移动.随着Al掺杂量的增加带隙越来越宽,Al杂质能级在导带部分与Sn5p态电子相互作用逐渐增强,虚部谱中的第一介电峰的强度随掺杂Al浓度增大而减弱.同时,吸收谱及其他光学谱线与介电函数虚部谱线相对应,各谱线均发生蓝移现象,对应带隙增宽,从理论上指出了光学性质与电子结构之间的内在关系.

关键词：能带结构 态密度 光学性质 介电函数 

单位：济南大学理学院 济南250022