摘要：为了测定聚变-裂变反应堆模型钍包层中的钍俘获率以及钍–铀转化率,探索了一种新的钍活化离线γ测量法.利用测量232Th俘获反应产物233Th衰变链中233Pa衰变放出的311.98 keV特征γ射线,来反推计算并最终确定232Th（n,γ）233Th的反应率,测试实验中不确定度约6%（233Th/232Th量级为10-17情况下）.详细介绍了此方法的背景和原理方法,并进行简单的校验实验,证明其能够较好地得到模拟装置中的俘获率.与瞬发γ测量法以及质谱分析法进行对比,本方法更适合用于聚变-裂变反应堆模型钍包层中的钍俘获率以及钍-铀转化率测量,并有望进一步测量其他相关参数.

关键词：钍 俘获率 离线测量 

单位：清华大学工程物理系 北京100084 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 绵阳621900 清华大学粒子技术与辐射成像教育部重点实验室 北京100084