摘要：锥束CT具有高效率和高精度的显著特点，在医学成像与工业无损检测等领域已得到广泛应用，但余晖的存在降低了CT图像的质量．本文借鉴余晖多指数衰减模型的思想，结合平板探测器输出信号的实际衰减规律，提出了一种新的基于多指数拟合的余晖衰减建模及校正方法．首先进行了基于平板探测器的锥束CT成像实验，结果表明平板探测器各像素的余晖衰减规律具有良好的一致性，且余晖衰减规律与初始灰度的大小无关；其后根据建立的余晖衰减模型实现了余晖的快速校正，并分析比较了余晖校正前后投影图像和切片图像质量，表明余晖校正后的零件轮廓清晰度得到了显著提升．该方法无需获取探测器闪烁体成分及其衰减时间常数，便于实际锥束CT成像系统的余晖检测与校正．

关键词：余晖 平板探测器 锥束ct 多指数衰减 

单位：西北工业大学现代设计与集成制造技术教育部重点实验室 西安710072 西北工业大学机电学院 西安710072