摘要：为了在降低数字全息显微成像系统成本的同时实现高分辨成像,对像面数字全息显微术的记录与再现过程进行了理论分析,结合系统的点扩散函数,对该系统的横向分辨率进行了分析.得到了如下结论：像面数字全息显微系统的横向分辨率对电荷耦合器件（CCD）光敏面尺寸变化不敏感;对于常见的CCD器件,其像元尺寸的变化对该系统的横向分辨率影响甚微.此外,对像面数字全息显微系统的成像特点进行了分析,结果表明：利用像面数字全息系统可以实现物体信息的完整记录与再现,其成像分辨率及像质优于预放大数字全息系统.利用搭建的数字全息实验记录系统,从强度及位相两方面对理论分析结果进行了验证,实验结果表明了理论分析的正确性.

关键词：像面数字全息术 横向分辨率 点扩散函数 小尺寸电荷耦合器件 

单位：河北工程大学理学院 邯郸056038 河北工程大学信息与电气工程学院 邯郸056038 北京理工大学自动化学院 海淀100081