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H2气氛退火处理对Nb掺杂TiO2薄膜光电性能的影响

张彬 王伟丽 牛巧利 邹贤劭 董军 章勇 物理学报 2014年第06期

摘要:采用电子束沉积方法,以钛酸锶(SrTiO3)为衬底制备铌(Nb)掺杂TiO2薄膜并研究后续H2气氛退火处理对其薄膜样品光电性能的影响.结果发现H2气氛热退火处理能有效改善Nb掺杂TiO2薄膜的导电率,最佳电阻率达到5.46×10^-3Ω·cm,在可见光范围内的透光率为60%-80%.导电性能的改善与H2气氛退火处理后多晶薄膜的晶粒尺寸变大和大量的氧空位形成及H原子掺杂有关.

关键词:nb掺杂tio2电子束沉积退火薄膜tio2

单位:华南师范大学 光电子材料与技术研究所 广州 510631

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