摘要：以“强光一号”Z箍缩装置10174发次光谱诊断实验结果为例,描述了一种对Z箍缩等离子体X辐射光谱分离提纯、诊断的方法.对连续辐射谱和特征辐射线谱进行分离,并从连续辐射谱和特征辐射线谱中提取了等离子体电子温度信息.结果显示：等离子体连续谱主要由等离子体中心的高温区（T e =290.7 eV ±1.2 eV）和温度较低的壳层区域（T e =95.3 eV ±8.3 eV）两部分叠加而成；特征辐射线谱主要反映了等离子体中心的高温区信息,根据非局域热动平衡模型计算提取的电子温度约为299-313 eV,与连续谱诊断结果基本符合.

关键词：z箍缩 光谱分离 光谱诊断 电子温度 

单位：电子科技大学物理电子学院 成都610054 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 绵阳621900 北京应用物理与计算数学研究所 北京100088