摘要：利用低温X射线衍射研究了Bi2Te3晶体的线热膨胀系数.结果表明：拓扑绝缘体Bi2Te3晶体的线热膨胀系数α｜｜和α⊥表现为各向异性,并遵从不同的温度依赖关系.反映a-a平面内的膨胀系数α⊥在较宽的温区内服从Debye关系,而反映垂直于a-a平面方向的膨胀系数α｜｜在100 K左右就开始出现与Debye模型在定性上的差别.利用Debye模型并结合Bi2Te3晶体的面内和层间原子之间的键合特性对α｜｜和α⊥所表现出的不同温度依赖特性进行了解释.

关键词：拓扑绝缘体 热膨胀系数 德拜模型 格律乃森关系 

单位：西南交通大学 材料先进技术教育部重点实验室 超导与新能源研究开发中心 成都610031 School of Materials Science and Engineering University of New South Wales Sydney 2052 NSW Australia