摘要：首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司日前宣布，为非易失性存储器（NVM）市场提供知识产权解决方案的领导厂商赛凡半导体有限公司已经同意购买7套V5000e系统，对其下一代非易失性存储器（NVM）设备进行设计检测和调试，包括第一个45nm设计的产品。赛凡半导体有限公司测试部经理Shay Galanti表示：“我们选择惠瑞捷的原因有很多，V5000e简便易用的调试功能对我们尤为重要。我们将使用惠瑞捷测试设备，为尖端的45nm设计进行特性分析，高效调试可以节约大量的成本。”

关键词：设计特性 设备调试 非易失性存储器 nvm 半导体测试 

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