摘要：多值逻辑和多值逻辑电路近年来得到了越来越多的应用,研究多值逻辑电路的测试,给出了采用敏化路径法计算给定故障测试矢量的方法,并对多故障的测试生成进行了研究.结果表明若同时对故障位置的多条路径进行敏化,则可以方便地求出故障的测试矢量.

关键词：多值逻辑电路 固定型故障 测试生成 路径敏化 

单位：华南师范大学物理与电信工程学院; 广州510631