摘要：分析了现有光盘径向动态特性测量方法的特点，深入研究了一种适用于高密度光盘径向动态特性的基于过道波形信号连续测量方法及其具体实现。比较了该方法与国际标准推荐的测量方法的测量精度，结果表明该方法精度更高，更能适应未来高密度光盘的测试要求。

关键词：径向动态特性 伺服系统 光盘 精度 

单位：华中科技大学计算机外存储系统国家专业实验室; 武汉430074