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单晶硅微桥式梁力学性能的弯曲测试

韩光平; 刘凯; 王秀红 仪器仪表学报 2006年第02期

摘要:微梁是微电子机械系统(MEMS)中常见的结构,单晶硅是MEMS最基本、最常用的材料之一,其材料力学性能需要精确的评价。应用光刻等技术加工了六组不同尺寸的微桥式梁试件,并进行了弯曲测试,梯形截面的试件可代表矩形、方形等截面的常见微梁。弯曲测试选用的纳米压痕法适用于弹塑性材料,且可同时获取弹性模量、硬度和弯曲强度等多种力学性能参数。实验测得单晶硅的平均弹性模量为(170.295±2.4850)GPa,没有呈现尺寸效应;弯曲强度在3.24~10.15GPa范围内变化,有较强的尺寸效应,平均硬度为(9.4967±1.7533)GPa,尺寸效应不太明显。

关键词:微电子机械系统纳米压痕法力学性能尺寸效应弯曲测试

单位:西安理工大学; 西安710048; 郑州航空工业管理学院; 郑州450015

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