摘要：IEEE国际电子测量与仪器会议（IEEE会议编号41154）是两年一度的学术盛会，从1992年至今已成功举办过12届，为电子测量与仪器领域的发展现状和前景的研讨及尖端技术的交流搭建了一个有效的平台。来自世界各地的数百位专家、教授、学者和工程技术人员在此欢聚一堂，交流信息、研讨问题、促进了相互间的了解和友谊。

关键词：电子测量 学术会议 ieee 征文通知 仪器 

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