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ARM+DSP系统MMU在射频一致性测试仪表的实现

陈发堂 郭丽强 自动化仪表 2014年第01期

摘要:针对单核处理器MMU无法满足TD—LTE射频一致性测试仪对存储系统提出的高性能需求,提出了一种基于功能强大的ARM+DSP双核嵌入式系统的MMU实现方法。根据TD.LTE系统的设计需求,重点介绍了双核MMU在不同环境下的设计及其与各种方案的对比分析。基于双核系统中ARM与DSP处理器各自特点和需求,设计了两种MMU。在实现重映射后,双核系统实现上电自启动,并顺利响应了来自GPIO的IRQ中断。

关键词:嵌入式双核处理器armdspmmu

单位:重庆邮电大学通信与信息工程学院 重庆400065

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