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激光微细加工中微小曝光区域的计算机温度测量系统

吴云峰; 叶玉堂; 吴泽明; 杨先明; 秦宇伟 中国激光 2004年第03期

摘要:在半导体的激光微细加工技术里,微小曝光区域的温度分布是关键的工艺参数,必须得到精确的测量。而为了使温度测量不影响曝光区的温度分布,需采用不接触测量方法。研制了计算机温度测量系统,实现了微小激光曝光区温度的实时不接触测量。系统中,InGaAs/InP光探测器将微小高温区的温度信号转换为光电流.再经信号放大及模/数转换后输入计算机。结合温度定标实验,对测得的温度数据进行插值运算,在实验中可以实时显示出曝光区的温度值。系统的温度分辨率可达到0.2℃,测量区域的最小直径可达到18μm。同时设计了搜索算法,使温度数据采集和精密位移平台的移动相配合,实现了温度分布的测量和最高温度区的准确定位。

关键词:计算机温度测量系统激光微细加工半导体微小曝光区域

单位:电子科技大学光电子技术系; 四川成都610054

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