摘要：晶体折射率的准确测定是晶体上薄膜器件设计的基础.介绍了利用分光光度计测量晶体折射率的方法,通过背面影响系数法、背面镀增透膜和将两者结合起来的方法消除晶体反射率测量时背面反射带来的影响,给出了具体的步骤并对测量误差进行了分析.由于晶体的光学各向异性,采用起偏器扫描的方法测量晶体光学性质随方向的变化.通过对LiB3O5晶体的折射率的测量,证实了该方法的可行性并可用于其他光学晶体折射率的测量.

关键词：测量 折射率 分光光度计 lib3o5晶体 偏振方向 

单位：中国科学院上海光学精密机械研究所光学薄膜技术研发中心; 上海; 201800; 中国科学院研究生院; 北京; 100039; 中国科学院上海光学精密机械研究所光学薄膜技术研发中心; 上海; 201800