摘要：提出了基于宽谱半导体激光器连续激光光腔衰荡法测量高反射率的方法，给出了方波调制连续激光光腔衰荡法理论。采用锁相技术记录光腔输出信号一次谐波的振幅和相位，由振幅和相位随调制频率的变化曲线分别拟合衰荡时间。给出了不同腔长下两种拟合方式分别得到的衰荡时间，最终确定腔镜反射率为99．70％，误差小于0．01％。由频域拟合方式得到反射率结果，使可靠性得到提高。与脉冲激光光腔衰荡法相比，采用连续半导体激光器作光源，大大降低了成本，且由于光束质量高，更有利于提高测量精度。

关键词：测量 高反射率 光腔衰荡 宽谱 连续激光 

单位：中国科学院光电技术研究所; 四川成都610209; 中国科学院研究生院; 北京100039