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互补金属氧化物半导体图像传感器亚像元细分精度实验研究

刘智; 翟林培; 郝志航 中国激光 2007年第01期

摘要:通过图像处理方法,用软件的方式(亚像元细分)对目标进行定位是一个可有效提高测量精度的途径。主要对互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器亚像元细分精度的测试方法和测试结果进行研讨。利用压电陶瓷(PZT)精密快扫振镜(FSM)和基于互补金属氧化物半导体图像传感器OV7620的数字相机构建了实验系统,对该互补金属氧化物半导体图像传感器OV7620的亚像元细分精度进行了实验研究。结果表明,OV7620的质心定位精度达到0.17pixel,即能够实现六细分,互补金属氧化物半导体图像传感器具有实现亚像元细分的能力,能够应用于以光斑质心检测为手段的测量系统中。

关键词:成像系统互补金属氧化物半导体图像传感器亚像元细分细分精度填充率

单位:长春理工大学电信工程学院; 吉林长春130022; 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所空间光学研究部; 吉林长春130022

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