摘要：通过控制作用于材料表面的激光能量和脉冲数量，实验研究了800nm，50 fs，1 kHz激光作用下融石英玻璃和硅片的破坏机制和损伤规律，计算了材料的损伤阈值与脉冲能量以及脉冲数量的依赖关系，并采用简化的理论模型计算了熔石英玻璃材料的损伤阈值与激光脉宽以及光子能量之间的依赖关系。对这两种无机硅材料在飞秒脉冲作用后的微区结构改变进行了扫描电子显微镜（SEM）测试，研究了其形貌特征。结果表明，硅片是由缺陷中的导带电子作为种子电子引发雪崩电离导致材料损伤，而熔石英玻璃是由多光子电离激发出导带电子引发雪崩电离导致材料损伤。

关键词：材料 无机硅 损伤 飞秒激光 扫描电子显微镜 

单位：华中科技大学武汉光电国家实验室筹; 光电子科学与工程学院; 湖北武汉430074