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频谱泄漏对正弦相位调制干涉测量精度的影响

何国田; 王向朝; 曾爱军 中国激光 2007年第07期

摘要:在正弦相位调制(SPM)干涉仪中,若调制频率或者采样频率发生变化将使干涉信号出现频谱泄漏,减小了谐波分量的幅值,在测量结果中引入了误差。对频谱泄漏的产生及其对测量精度的影响进行了理论分析,获得了频谱泄漏引入测量误差的计算方法。实验测得频率漂移量在-0.3~0.3Hz内,得到的频谱泄漏引入的误差为0.3~7.9nm,当超出这个范围时,频谱泄漏误差将迅速增长。实验结果与模拟分析结果一致。

关键词:测量正弦相位调制干涉仪频谱泄漏离散傅里叶变换测量精度

单位:中国科学院上海光学精密机械研究所; 上海201800; 中国科学院研究生院; 北京100039

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