摘要:为了测量z箍缩等离子体X射线的空间分辨光谱,利用椭圆聚焦原理,研制了一种椭圆晶体谱仪。以Si(111)椭圆弯晶作为色散分析元件,椭圆的离心率为0.9480,焦距为1348mm,布拉格角范围为30°~54°,谱线探测角范围为54°~103°,探测的波长范围为0.31-0.51nm。设计了半径为50mm的半圆型胶片暗盒,内装胶片接收光谱信号。分析了椭圆的弥散度对光谱分辨率的影响。在“阳”加速器装置上进行摄谱实验,胶片成功获取了氩喷气等离子体X射线的跃迁光谱,实测谱线分辨率(λ/△λ)达300~500,波长与理论值吻合。
关键词:光学器件 等离子体光谱学 椭圆弯晶谱仪 z箍缩 x射线
单位:重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室 重庆400030 中国工程物理研究院流体物理研究中心 四川绵阳621900
注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社