摘要:介绍了一种新的基于径向波前斜率的哈特曼检测方法及原理,并重点介绍了采用该方法和技术研制的800 mm口径的径向哈特曼像质检测实验系统的组成及结构,以及利用该系统对700 mm光学系统像质检测的实验结果。研究表明,在没有昂贵的大口径标准平面镜的情况下,用该方法在室内可实现大型望远镜系统的像质检测。
关键词:测量 光学检测 波前传感器 哈特曼检测 大型望远镜
单位:中国科学院光电技术研究所 四川成都610209 中国科学院研究生院 北京100049
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