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WS_x薄膜的脉冲激光沉积可控制备

张继 郑晓华 寇云峰 宋仁国 中国激光 2012年第04期

摘要:采用脉冲激光沉积法(PLD)在单晶硅基底上制备了WSx固体润滑薄膜。利用X射线能谱仪(EDS)、扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)对薄膜的成分、形貌和微观结构进行了分析,采用球盘式磨损试验机在大气(相对湿度为50%~55%)环境下评价薄膜的摩擦学特性。结果表明:薄膜中S和W的原子数分数比(简称S/W比)在1.05~3.75之间可控,摩擦系数为0.1~0.2;S/W比高于2.0时薄膜成膜质量和摩擦系数显著恶化。正交试验法得出影响薄膜S/W比的因素主次顺序分别是气压、温度、靶基距和激光通量;最优工艺参数是温度150℃、靶基距45mm、激光通量5J/cm2、气压1Pa,可获得结构致密、成分接近化学计量比的WSx薄膜。

关键词:薄膜ws2脉冲激光沉积固体润滑正交试验

单位:浙江工业大学机械工程学院 浙江杭州310014 常州大学材料科学与工程学院 江苏常州213164

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